Deadline: 28. März 2008
Download Call for Papers ZuE 2008.
Zum Einreichen der Beiträge verwenden Sie bitte ein elektronisches Tool, das sie über den folgenden Link erreichen: Papers für die ZuE.
Themenbereiche
Entwurfsmethodik
· Robuster Entwurf
· Synthesis for Reliability and Yield
Eingebettete Systeme
· Systemzuverlässigkeit beim Hardware/Software Co-Entwurf
· Verfügbarkeit
Mikroelektronik in der Automobiltechnik
· Ausfallanalysen und neue Fehlermodelle
· Konzeption von Architekturen unter Zuverlässigkeitsaspekten
Analoge Schaltungen
· RF
· Störsicherheit
Verifikation digitaler Systeme
· Korrektheit
· Nachweis von Fehlertoleranz und Zuverlässigkeitseigenschaften
Beschreibungssprachen und Modellierung
· Modellierung von Fehlertoleranz und Zuverlässigkeit
Testmethoden und Diagnose
· Defekt- und Fehleranalyse
· Test, Diagnose und Fehlertoleranz
Layoutentwurf
· Design for Manufacturability and Yield
· Constraint-geführter Entwurf
Es wird ein Best Paper Award vergeben
Einreichung von Beiträgen
Es sind Teilbeiträge von ca. 20 Minuten Dauer mit anschließender Diskussion sowie Poster vorgesehen. Die angenommenen Beiträge werden in einem zitierfähigen Tagungsband mit CD-ROM zusammengefasst.
Die Fachtagung ist auf Deutsch, es sind jedoch Beiträge und Vorträge auf Englisch willkommen.
Beiträge von bis zu 8 Seiten sind elektronisch als pdf Dateien unter obenstehenden Link einzureichen.
Bei Beiträgen in Deutsch muss zusätzlich ein Abstrakt in englischer Sprache enthalten sein.
Für die Vorbereitung Ihres Tagungsbeitrags haben wir Mustervorlagen erstellt. Die Mustervorlage garantiert ein einheitliches Erscheinungsbild und erleichtert Ihnen die Arbeit durch automatisches Einhalten der Schriftformate, Umbrüche und Abstände.
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