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Call for Papers



Deadline:  28. März 2008


Download Call for Papers ZuE 2008
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Zum Einreichen der Beiträge verwenden Sie bitte ein elektronisches Tool, das sie über den folgenden Link erreichen: Papers für die ZuE.

 

Themenbereiche

 

Entwurfsmethodik

·         Robuster Entwurf

·         Synthesis for Reliability and Yield


Eingebettete Systeme

·         Systemzuverlässigkeit beim Hardware/Software Co-Entwurf

·         Verfügbarkeit


Mikroelektronik in der Automobiltechnik

·         Ausfallanalysen und neue Fehlermodelle

·         Konzeption von Architekturen unter Zuverlässigkeitsaspekten


Analoge Schaltungen

·         RF

·         Störsicherheit


Verifikation digitaler Systeme

·         Korrektheit

·         Nachweis von Fehlertoleranz und Zuverlässigkeitseigenschaften


Beschreibungssprachen und Modellierung

·         Modellierung von Fehlertoleranz und Zuverlässigkeit


Testmethoden und Diagnose

·         Defekt- und Fehleranalyse

·         Test, Diagnose und Fehlertoleranz

 

Layoutentwurf

·         Design for Manufacturability and Yield

·         Constraint-geführter Entwurf

 

 

Es wird ein Best Paper Award vergeben 

 

Einreichung von Beiträgen

Es sind Teilbeiträge von ca. 20 Minuten Dauer mit an­schließender Diskussion sowie Poster vorge­sehen. Die angenommenen Beiträge werden in ei­nem zitierfähigen Tagungsband mit CD-ROM zu­sam­mengefasst.

Die Fachtagung ist auf Deutsch, es sind jedoch Bei­träge und Vorträge auf Englisch willkommen.

Beiträge von bis zu 8 Seiten sind elektronisch als pdf Dateien unter obenstehenden Link einzureichen.

Bei Beiträgen in Deutsch muss zusätzlich ein Abstrakt in englischer Sprache enthalten sein.

Für die Vorbereitung Ihres Tagungsbeitrags haben wir Mustervorlagen erstellt. Die Mustervorlage garantiert ein einheitliches Erscheinungsbild und erleichtert Ihnen die Arbeit durch automatisches Einhalten der Schriftformate, Umbrüche und Abstände.


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